Agenda de la mesure et des tests
17ème Congrès international de métrologie: Mesurer, analyser et innover, le défi permanent !
Le CIM 2015 rassemblera, du 21 au 24 septembre à Paris, tous les acteurs du monde de la mesure : utilisateurs de moyens de mesure, experts, laboratoires, fabricants et prestataires.
Il présente les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et les applications industrielles. Il montre également comment la mesure améliore, au quotidien, les processus industriels et la maîtrise des risques.
Les thématiques phares de 2015 : Maîtrise des risques, Transition énergétique et Santé sont illustrés pendant la manifestation qui couvre également tous les secteurs : analyses et essais, incertitudes, optimisation des coûts, nanotechnologies, métrologie sensorielle …
Le CIM 2015 est organisé conjointement avec ENOVA Paris, le salon de référence des technologies Electronique, Mesure, Vision et Optique.
Information presse :
04.67.06.20.36 - info@cfmetrologie.com - www.metrologie2015.com
Source : http://www.metrologie2015.com
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